Società israeliana altamente specializzata nella realizzazione di microscopi a forza atomica (AFM) che utilizzano una nuova concezione di stage piezoelettrico e di punte, entrambi brevettati, che ne permette l’utilizzo sia su campioni rigidi ma anche non rigidi nel settore biotecnologico.
Sin dalla sua fondazione nel 1997, Nanonics Imaging Ltd. ha sempre focalizzato la sua attenzione nel presentare al mercato sistemi di microscopia a Scansione di Sonda (SPM) che incorporano facilità d’uso, elevate prestazioni e flessibilità.
La costante ricerca e sviluppo ha portato a realizzare sistemi multi – probe (ovvero multi punta) unici, da una sino a massimo 4 punte che possono effettuare misure in contemporanea, e nel medesimo punto.
Ad es.: morfologia, analisi chimica tramite accoppiamento Raman, misura della conducibilità termica ed elettrica.
Unica nel suo genere, la nanolitografia permette di creare nano circuiti con inchiostri conduttivi.
Grazie a uno dei più grandi team di scienziati specializzato in ottica a campo vicino e alla sua collaborazione con un laboratorio di livello mondiale che lavora in questo campo, Nanonics imaging LTD è in grado di fornire ai propri clienti sistemi a scansione di sonda (SPM) e microscopi a scansione a campo vicino (NSOM), all’avanguardia, robusti e flessibili.
Prodotti a probe singolo
Il MultiView 1500TM è un sistema entry-level che integra completamente tutte le forme di microscopia a sonda a scansione (SPM) con la microscopia ottica convenzionale, è integrabile con altri microscopi ottici, elettronici e/o con altre tecniche spettroscopiche.
- È un sistema completo, pluripremiato, per effettuare misure ad elevate prestazioni.
- Offre una soluzione SPM conveniente e completa di funzionalità SPM avanzate, EFM, MFM.
- Il suo design enfatizza la facilità d’uso in modo che i clienti con qualsiasi background tecnico possano effettuare rapidamente misure SPM.
Può essere facilmente upgradato per eseguire misure più sofisticate come NSOM e AFM-Raman.
Nel complesso, il MultiView 1500 è un sistema SPM robusto e versatile che consente all’utente di usare sia la risoluzione più bassa dell’imaging a campo lontano convenzionale, che la risoluzione più spinta della microscopia confocale, come di utilizzare tecniche a campo vicino NSOM abbinate all’elevata risoluzione finale dell’AFM.
a. MultiView 1500TM installato all’interno di un Microscopio a Scansione Elettronica (SEM)
b. immagine SEM della punta sopra il campione all’interno della camera del SEM stesso
c. MultiView 1500TM installato in un Raman Renishaw
d. MultiView 1500TM installato in un microscopio ottico con visualizzazione sia a sopra che da sotto
- Il MultiView 2000TM è un sistema AFM avanzato a singola testa, che consente di utilizzare un'ampia varietà di tecniche: AFM, SPM, NSOM, AFM Raman, TERS e di eseguire misure senza perturbazioni.
- Il MultiView 2000TM permette di eseguire due modalità di scansione: Tip Scanning e/o Sample scanning .
- Il MultiView 2000TM ha la particolarità di lavorare in modalità Tuning Fork feedback e di regolare la modulazione di frequenza con elevati fattori Q e senza le interferenze dovute ai tradizionali feedback ottici, offrendo una più elevata stabilità e sensibilità anche con soft matters, senza necessità di laser (FREE–LASER mode).
a. MultiView 2000TM possibilità di analizzare campioni con particolari geometrie e/o dimensioni
b. MultiView 2000TM installato in un Scanning Electron Microscope (SEM)
c. MultiView 2000TM installato in un microscopio Raman Thermo Fisher
d. MultiView 2000TM installato in un microscopio ottico con visualizzazione da sopra e da sotto
- Il MultiView 2500TM è il microscopio a scansione di sonda compatto a bassissimo rumore che offre la massima risoluzione e sensibilità della forza, L’MV2500 è il microscopio a scansione di sonda, a singola testa più completo , esso nasce con lo scopo di integrare tutte le tecniche AFM/SPM
- Offre tutte le modalità di mappatura AFM: contatto, contatto intermittente, non contatto
- Ha la possibilità di lavorare sia in modalità Optical Beam Bounce feedback
- Le modalità di cui sopra possono essere eseguite in Forza Normale e Laterale
- Ha la possibilità di lavorare in modalità Tuning Fork feedback: regolazione della modulazione di frequenza con elevati fattori Q e senza le interferenze classiche dei feedback ottici
- Ha due modalità di scansione: Tip Scanning e/o Sample scanning
- Camera per le misure in liquido (opzionale)
- Camera per il controllo ambientale (opzionale)
- Il MultiView 2500TM è un sistema che ha la massima flessibilità di integrazione con una gran varietà di microscopi ottici verticali o invertiti e permette la visualizzazione del campione dal basso grazie al suo stage piezoelettrico annulare innovativo
- Il MultiView 2500TM è un sistema ideato per essere integrato con altre tecniche microscopiche come NSOM, Raman e Fluorescenza
- Il MultiView 2500TM supporta molteplici tecniche di imaging SPM tra cui: le curve Force vs Distance e una varietà di opzioni speciali come Electrical Imaging (cAFM), Nano indentazione, Nanolitografia chimica, tecnologia di scrittura NanoStilografica (FNP), Microscopia elettrochimica a scansione (SECM), Piezo Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrical Force Microscopy(EFM) Conduttività Termica (SThM), Imaging di temperatura con termocoppia, Kelvin ProbeTM.
Prodotti multi-probe
La possibilità di lavorare con più sonde è stato il sogno fin dai primi giorni dello sviluppo della microscopia a scansione di sonda (SPM). La ricerca sulle nanostrutture più diverse, mediante l’ utilizzo della microscopia a forza atomica (AFM), ha stimolato il desiderio di analizzare e manipolare i campioni con molteplici tecniche ed in diversi modi, anche nel medesimo istante. Con il MultiView 4000TM, Nanonics Imaging Ltd è il primo produttore a realizzare il sogno dell’imaging multi-sonda.
- Il MultiView 4000TM consente di realizzare, a seconda delle esigenze, piattaforme con un massimo di due o quattro sonde, per l’imaging indipendente e la manipolazione del campione
- Offre tutte le modalità di mappatura AFM: contatto, contatto a intermittenza, non contatto, Optical Beam Bounce Feedback
- Le modalità di cui sopra possono essere eseguite sia in Forza Normale che Laterale
- Modalità Tuning Fork feedback: regolazione della modulazione di frequenza con elevati fattori Q e senza le interferenze classiche dei feedback ottici
- Due modalità di scansione: Tip Scanning e/o Sample scanning
- Camera per le misure in liquido (opzionale)
- Camera per il controllo ambientale (opzionale)
- Il MultiView 4000TMè un sistema che ha la massima flessibilità di integrazione con una gran varietà di microscopi ottici verticali o invertiti e permette la visualizzazione del campione dal basso grazie al suo stage piezoelettrico annulare innovativo
- Il MultiView 4000TM è un sistema ideato per essere integrato con altre tecniche microscopiche come NSOM, Raman e Fluorescenza
- Il MultiView 4000TM supporta una moltitudine di tecniche di imaging SPM, tra cui: le curve Force vs Distance e una varietà di opzioni speciali come Electrical Imaging (cAFM), Nano indentazione, Nanolitografia chimica, tecnologia di scrittura NanoStilografica (FNP), Microscopia elettrochimica a scansione (SECM), Piezo Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrical Force Microscopy(EFM) Conduttività Termica (SThM), Imaging di temperatura con termocoppia, Kelvin ProbeTM
Configurazioni per Applicazioni Speciali
- Il CryoviewTM è un microscopio multiprobe, che consente la misura delle proprietà elettriche, ottiche, magnetiche e termiche dei materiali a bassa temperatura, questo perché completamente integrato con ottiche che gli permettono di lavorare sia a campo vicino (NSOM) che a campo lontano (Spettroscopia a Fluorescenza tradizionale), e spettroscopia Raman.
- Il CryoviewTM apre nuove strade per le misurazioni multisonda, comprese le proprietà dei materiali a temperature fino a 10 K.
- Il CryoViewTM è uno strumento pluripremiato, un «must-have» particolarmente adatto per analizzare materiali 2D come il grafene, MoS2, BN, TaS2, NBSe2, WS2, HfO2, metamateriali e metasuperfici, nonché altri materiali funzionali come Si, nanotubi di carbonio, semiconduttori III-V e Quantum Dot.
- L’Hydra BioAFMTM con la sua modalità VISTATM (Vivid Imaging Soft Touch AFM) rappresenta la svolta nella microscopia a forza atomica applicata al campo Bio. Questa innovazione offre una mappatura della forza ultrasensibile al singolo pN combinata con i vantaggi dell’imaging ottico/fluorescenza a super-risoluzione.
- L’Hydra BioAFMTM permette di effettuare una correlazione diretta tra l’imaging di celle vive con una risoluzione ottica <100nm e la topografia AFM
- L’Hydra BioAFMTM, con la sua capacità di sonda singola o multipla, consente una versatile integrazione ottica con microscopi duali (come nella foto a sinistra) e con illuminazione laterale.
Il sistema consente di usare metodi con super-risoluzione come STED, PALM, STORM e NSOM su cellule vive con qualsiasi tipologia di colorante disponibile.
