MultiView 1500

Il MultiView 1500^TM è un sistema entry-level che integra completamente tutte le forme di microscopia a sonda a scansione (SPM) con la microscopia ottica convenzionale, è integrabile con altri microscopi ottici, elettronici e/o con altre tecniche spettroscopiche.

• È un sistema completo, pluripremiato, per effettuare misure ad elevate prestazioni.
• Offre una soluzione SPM conveniente e completa di funzionalità SPM avanzate, EFM, MFM.
• Il suo design enfatizza la facilità d’uso in modo che i clienti con qualsiasi background tecnico possano effettuare rapidamente misure SPM.
  Può essere facilmente upgradato per eseguire misure più sofisticate come NSOM e AFM-Raman.
  Nel complesso, il MultiView 1500 è un sistema SPM robusto e versatile che consente all’utente di usare sia la risoluzione più bassa dell’imaging a campo lontano convenzionale, che la risoluzione più spinta della microscopia confocale, come di utilizzare tecniche a campo vicino NSOM abbinate all’elevata risoluzione finale dell’AFM.

 

1. MultiView 1500^TMinstallato all’interno di un Microscopio a Scansione Elettronica (SEM)
   b. immagine SEM della punta sopra il campione all’interno della camera del SEM stesso
   c. MultiView 1500^TM installato in un Raman Renishaw
   d. MultiView 1500^TM installato in un microscopio ottico con visualizzazione sia a sopra che da sotto

 

 

MultiView 2000

• Il MultiView 2000^TM è un sistema AFM avanzato a singola testa, che consente di utilizzare un’ampia varietà di tecniche: AFM, SPM, NSOM, AFM Raman, TERS e di eseguire misure senza perturbazioni.
• Il MultiView 2000^TM permette di eseguire due modalità di scansione: Tip Scanning e/o Sample scanning .
• Il MultiView 2000^TM ha la particolarità di lavorare in modalità Tuning Fork feedback e di regolare la modulazione di frequenza con elevati fattori Q e senza le interferenze dovute ai tradizionali feedback ottici, offrendo una più elevata stabilità e sensibilità anche con soft matters, senza necessità di laser (FREE–LASER mode).

 

1. MultiView 2000^TMpossibilità di analizzare campioni con particolari geometrie e/o dimensioni
   b. MultiView 2000^TM installato in un Scanning Electron Microscope (SEM)
   c. MultiView 2000^TM installato in un microscopio Raman Thermo Fisher
   d. MultiView 2000^TM installato in un microscopio ottico con visualizzazione da sopra e da sotto

 

Spectra MultiView 2500

• Il MultiView 2500^TM è il microscopio a scansione di sonda compatto a bassissimo rumore che offre la massima risoluzione e sensibilità della forza, L’MV2500 è il microscopio a scansione di sonda, a singola testa più completo , esso nasce con lo scopo di integrare tutte le tecniche AFM/SPM
• Offre tutte le modalità di mappatura AFM: contatto, contatto intermittente, non contatto
• Ha la possibilità di lavorare sia in modalità Optical Beam Bounce feedback
• Le modalità di cui sopra possono essere eseguite in Forza Normale e Laterale
• Ha la possibilità di lavorare in modalità Tuning Fork feedback: regolazione della modulazione di frequenza con elevati fattori Q e senza le interferenze classiche dei feedback ottici
• Ha due modalità di scansione: Tip Scanning e/o Sample scanning
• Camera per le misure in liquido (opzionale)
• Camera per il controllo ambientale (opzionale)

 

• Il MultiView 2500^TM è un sistema che ha la massima flessibilità di integrazione con una gran varietà di microscopi ottici verticali o invertiti e permette la visualizzazione del campione dal basso grazie al suo stage piezoelettrico annulare innovativo
• Il MultiView 2500^TM è un sistema ideato per essere integrato con altre tecniche microscopiche come NSOM, Raman e Fluorescenza
• Il MultiView 2500^TM supporta molteplici tecniche di imaging SPM tra cui: le curve Force vs Distance e una varietà di opzioni speciali come Electrical Imaging (cAFM), Nano indentazione, Nanolitografia chimica, tecnologia di scrittura NanoStilografica (FNP), Microscopia elettrochimica a scansione (SECM), Piezo Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrical Force Microscopy(EFM) Conduttività Termica (SThM), Imaging di temperatura con termocoppia, Kelvin Probe^TM.

 

MultiView 4000

La possibilità di lavorare con più sonde è stato il sogno fin dai primi giorni dello sviluppo della microscopia a scansione di sonda (SPM). La ricerca sulle nanostrutture più diverse, mediante l’ utilizzo della microscopia a forza atomica (AFM), ha stimolato il desiderio di analizzare e manipolare i campioni con molteplici tecniche ed in diversi modi, anche nel medesimo istante. 

Con il MultiView 4000^TM, Nanonics Imaging Ltd è il primo produttore a realizzare il sogno dell’imaging multi-sonda.

• Il MultiView 4000^TM consente di realizzare, a seconda delle esigenze, piattaforme con un massimo di due o quattro sonde, per l’imaging indipendente e la manipolazione del campione
• Offre tutte le modalità di mappatura AFM: contatto, contatto a intermittenza, non contatto, Optical Beam Bounce Feedback
• Le modalità di cui sopra possono essere eseguite sia in Forza Normale che Laterale
• Modalità Tuning Fork feedback: regolazione della modulazione di frequenza con elevati fattori Q e senza le interferenze classiche dei feedback ottici

• Due modalità di scansione: Tip Scanning e/o Sample scanning
• Camera per le misure in liquido (opzionale)
• Camera per il controllo ambientale (opzionale)
• Il MultiView 4000^TMè un sistema che ha la massima flessibilità di integrazione con una gran varietà di microscopi ottici verticali o invertiti e permette la visualizzazione del campione dal basso grazie al suo stage piezoelettrico annulare innovativo
• Il MultiView 4000^TM è un sistema ideato per essere integrato con altre tecniche microscopiche come NSOM, Raman e Fluorescenza
• Il MultiView 4000^TM supporta una moltitudine di tecniche di imaging SPM, tra cui: le curve Force vs Distance e una varietà di opzioni speciali come Electrical Imaging (cAFM), Nano indentazione, Nanolitografia chimica, tecnologia di scrittura NanoStilografica (FNP), Microscopia elettrochimica a scansione (SECM), Piezo Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrical Force Microscopy(EFM) Conduttività Termica (SThM), Imaging di temperatura con termocoppia, Kelvin Probe^TM

 

Cryo View

• Il Cryoview^TM è un microscopio multiprobe, che consente la misura delle proprietà elettriche, ottiche, magnetiche e termiche dei materiali a bassa temperatura, questo perché completamente integrato con ottiche che gli permettono di lavorare sia a campo vicino (NSOM) che a campo lontano (Spettroscopia a Fluorescenza tradizionale), e spettroscopia Raman.
• Il Cryoview^TM apre nuove strade per le misurazioni multisonda, comprese le proprietà dei materiali a temperature fino a 10 K.
• Il CryoView^TM è uno strumento pluripremiato, un «must-have» particolarmente adatto per analizzare materiali 2D come il grafene, MoS₂, BN, TaS₂, NBSe₂, WS₂, HfO₂, metamateriali e metasuperfici, nonché altri materiali funzionali come Si, nanotubi di carbonio, semiconduttori III-V e Quantum Dot.

 

 

Hydra BioAFM

• L’Hydra BioAFM^TM con la sua modalità VISTA^TM (Vivid Imaging Soft Touch AFM) rappresenta la svolta nella microscopia a forza atomica applicata al campo Bio. Questa innovazione offre una mappatura della forza ultrasensibile al singolo pN combinata con i vantaggi dell’imaging ottico/fluorescenza a super-risoluzione.
• L’Hydra BioAFM^TM permette di effettuare una correlazione diretta tra l’imaging di celle vive con una risoluzione ottica <100nm e la topografia AFM
• L’Hydra BioAFM^TM, con la sua capacità di sonda singola o multipla, consente una versatile integrazione ottica con microscopi duali (come nella foto a sinistra) e con illuminazione laterale.
  Il sistema consente di usare metodi con super-risoluzione come STED, PALM, STORM e NSOM su cellule vive con qualsiasi tipologia di colorante disponibile.